Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:20:53

ENG Referat

Lorenz Butzhammer Universität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik

00:20:53

Lorenz Butzhammer Universität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik

Higher measurement accuracy for fast CT scans through task-driven view-angle optimization

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:20:53

Reducing the number of X-ray projections shortens measurement times in industrial CT, but often increases measurement errors. This talk presents a method for optimizing rotary table angles to improve the measurement accuracy with fewer images.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:28

ENG Referat

Hüseyin Serbes Metubiq

00:21:28

Hüseyin Serbes Metubiq

From Vibration Suppression to Vibration Awareness in White-Light Interferometry

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:28

Conventional approaches attempt to suppress vibrations through isolation or stabilization. We present a measurement-driven compensation strategy that makes vibrations observable and correctable, enabling robust white-light interferometry beyond the laboratory.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:16

ENG Referat

Dr. Paul-Gerald Dittrich Opto GmbH

00:21:16

Dr. Paul-Gerald Dittrich Opto GmbH

Beyond the Visible-Within the Visible:Computational Imaging for Hidden Surface Information

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:16

Introduces RTI-based computational imaging for surface analysis. Using Opto's new revolutionary solino®, the workflow, software, industrial applications, and AI-based extensions are presented. Experience how advanced surface inspection can be realized.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:18:30

ENG Referat

Martina Blattl Bruker Alicona

00:18:30

Martina Blattl Bruker Alicona

Accuracy in Metrology or: Why Your Measurements Are Always Wrong

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:18:30

Accuracy sounds solid. In reality, it never is.This session takes a clear look at why “perfect” measurements don’t exist, what accuracy means in practice, and which factors shape your results. A concise perspective on getting closer to reality in metrology.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:24:27

ENG Referat

Sebastian Conchi Mahr

00:24:27

Sebastian Conchi Mahr

From Lab to Line: Surface Inspection for Automated Manufacturing

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:24:27

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:04

ENG Referat

Nico Schulze Eleven Dynamics

00:21:04

Nico Schulze Eleven Dynamics

The Future of Metrology Automation with EDAS

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:21:04

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:24:43

ENG Referat

Ferenc Bögner und Fernando Schneider Kistler / AIT Goehner

00:24:43

Ferenc Bögner und Fernando Schneider Kistler / AIT Goehner

Metrology at Its Best with KiVision – Industrial dimensional measurement made easy

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:24:43

How can high-precision measurement technology be successfully transferred from the lab into industrial production? This session highlights the key challenges and shows how our software enables efficient image-processing solutions for industrial applications.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:14:37

ENG Referat

Dr. Peter Kühmstedt Fraunhofer IOF

00:14:37

Dr. Peter Kühmstedt Fraunhofer IOF

3D shape measurement in vehicle crash tests and Grey-Box-Processing for efficient analysis

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:14:37

The systems goCRASH3D and goSPE3D enable high‑resolution 3D recording of a vehicle’s interior and exterior during crash tests. The captured data of deformations and movements are analyzed in combination with simulated data using a grey-box model.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:22:53

ENG Referat

Niels Stenzel Shining 3D

00:22:53

Niels Stenzel Shining 3D

Markerless Scanning. Flexible Capture. Direct On Device Inspection

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:22:53

Experience the next generation of industrial 3D metrology with the FreeScan Omni and FreeScan Trak Nova from SHINING 3D. The presentation showcases wireless standalone metrology, markerless tracking, and real-time inspection directly on the device.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:20:11

ENG Referat

Armin Jehle AT Sensors

00:20:11

Armin Jehle AT Sensors

Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with AT 3D Laser Profilers

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:20:11

High-performance 3D laser profiler sensors from AT Sensors are providing precise and fast 3D images and pointclouds with high resolution and speed. AT Metrology Package is helping to develop the metrology application with calibration and measurement tools.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:40:21

ENG Referat

Prof. Dr. Ing. Jörg Seewig RPTU

00:40:21

Prof. Dr. Ing. Jörg Seewig RPTU

Keynote: The Filter Toolbox ISO 16610 – Theory and Application Examples

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:40:21

The keynote provides an overview of the most important filters standardized in the current version of ISO 16610. The properties of the linear Gaussian filter, the linear spline filter and the robust Gaussian filter are discussed in detail.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:04:06

ENG Webinar

Dr.-Ing. Peter Ebert TeDo Verlag GmbH

00:04:06

Dr.-Ing. Peter Ebert TeDo Verlag GmbH

Welcome EMVA/Newston

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:04:06

At the Metrology Day online conference, the latest trends and products will be presented in four sessions (3D Scanning, Automated Metrology, Surface Inspection, and CT/X-Ray & NDT), providing a comprehensive overview of current market developments.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:04:06

ENG Referat

Kai-Udo Modrich EMVA / Newston

00:04:06

Kai-Udo Modrich EMVA / Newston

Welcome EMVA/Newston

Sprache: Englisch

Datum: 10.06.2026

Dauer: 00:04:06

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Video

Sprache: Deutsch

Datum: 21.05.2026

Dauer: 00:45:09

DE Webinar

Patrick C. Prather TeDo Verlag GmbH

00:45:09

Patrick C. Prather TeDo Verlag GmbH

Unified Namespace und IIoT – Datenraum für die Smart Factory

Sprache: Deutsch

Datum: 21.05.2026

Dauer: 00:45:09

Der Unified Namespace soll alle Produktions- und Geschäftsdaten aus Maschinen, Sensoren und Systemen in einem gemeinsamen Echtzeit-Raum verfügbar machen – eine Single Source of Truth entsteht. Ob IIoT-Plattform, MES, ERP-, PLM-System oder Cloud?Analytics: Jeder kann andocken, Daten ...

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Video

Sprache: Deutsch

Datum: 21.05.2026

Dauer: 00:37:27

DE Referat

Konstantin Klein und Hendrik Rosendahl Arvato Systems

00:37:27

Konstantin Klein und Hendrik Rosendahl Arvato Systems

Skip, Shuffle, Share: Was die Industrie von Spotify lernen muss

Sprache: Deutsch

Datum: 21.05.2026

Dauer: 00:37:27

Früher besaßen wir Musik, heute streamen wir sie. Der Wandel erreicht die Industrie: weg von Datensilos, hin zu kontrolliertem Zugriff. Daten schaffen Wert, sind teil- & nutzbar und werden zur Währung. Datenräume sind der Spotify Moment für industrielle Daten!