Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:24:43

ENG Referat

Ferenc Bögner und Fernando Schneider Kistler / AIT Goehner

00:24:43

Ferenc Bögner und Fernando Schneider Kistler / AIT Goehner

Metrology at Its Best with KiVision – Industrial dimensional measurement made easy

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:24:43

How can high-precision measurement technology be successfully transferred from the lab into industrial production? This session highlights the key challenges and shows how our software enables efficient image-processing solutions for industrial applications.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:14:37

ENG Referat

Dr. Peter Kühmstedt Fraunhofer IOF

00:14:37

Dr. Peter Kühmstedt Fraunhofer IOF

3D shape measurement in vehicle crash tests and Grey-Box-Processing for efficient analysis

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:14:37

The systems goCRASH3D and goSPE3D enable high‑resolution 3D recording of a vehicle’s interior and exterior during crash tests. The captured data of deformations and movements are analyzed in combination with simulated data using a grey-box model.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:22:53

ENG Referat

Niels Stenzel Shining 3D

00:22:53

Niels Stenzel Shining 3D

Markerless Scanning. Flexible Capture. Direct On Device Inspection

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:22:53

Experience the next generation of industrial 3D metrology with the FreeScan Omni and FreeScan Trak Nova from SHINING 3D. The presentation showcases wireless standalone metrology, markerless tracking, and real-time inspection directly on the device.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:20:11

ENG Referat

Armin Jehle AT Sensors

00:20:11

Armin Jehle AT Sensors

Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with AT 3D Laser Profilers

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:20:11

High-performance 3D laser profiler sensors from AT Sensors are providing precise and fast 3D images and pointclouds with high resolution and speed. AT Metrology Package is helping to develop the metrology application with calibration and measurement tools.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:40:21

ENG Referat

Prof. Dr. Ing. Jörg Seewig RPTU

00:40:21

Prof. Dr. Ing. Jörg Seewig RPTU

Keynote: The Filter Toolbox ISO 16610 – Theory and Application Examples

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:40:21

The keynote provides an overview of the most important filters standardized in the current version of ISO 16610. The properties of the linear Gaussian filter, the linear spline filter and the robust Gaussian filter are discussed in detail.

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Event-Video

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:04:06

ENG Referat

Kai-Udo Modrich EMVA / Newston

00:04:06

Kai-Udo Modrich EMVA / Newston

Welcome EMVA/Newston

Sprache: Englisch

Datum: 15.06.2026

Dauer: 00:04:06

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Video

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:30:03

DE Referat

Marvin Nadig Forterro

00:30:03

Marvin Nadig Forterro

Mit Production Intelligence und KI ungeplante Stillstände vermeiden

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:30:03

Ungeplante Stillstände kosten Zeit und Geld. Erfahren Sie, wie Sie mit Production Intelligence und KI von reaktivem Handeln zu proaktiven Entscheidungen wechseln. Wir zeigen live den KI Chat, der Produktions- und ERP-Daten verständlich auswertet.

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Video

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:20:38

DE Referat

Markus Viehböck BE-terna

00:20:38

Markus Viehböck BE-terna

Vom Symptom zur Ursache – Wartung neu gedacht mit ERP & KI

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:20:38

Statt nur auf Symptome zu reagieren, ermöglicht KI-gestützte Analyse im Zusammenspiel mit ERP-Daten einen ganzheitlichen Blick auf Maschinen, Prozesse und Materialflüsse.

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Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:15:59

ENG Referat

Paulo Possa Allied Vision

00:15:59

Paulo Possa Allied Vision

Line-scan applications made simple

Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:15:59

Development of line-scan applications is often perceived as much more complex than their area-scan counterpart. We will detail functionalities offered by the Allied Vision frame grabbers that simplify the development and the setup of line-scan applications.

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Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:24:09

ENG Referat

Dale Deering Teledyne Vision Solutions

00:24:09

Dale Deering Teledyne Vision Solutions

Exploring TDI Technology and the incredible value it can deliver to your application

Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:24:09

Modern inspection demands simultaneous speed, resolution, and consistency — and that is exactly where line scan imaging excels. By capturing repeated serial images and synchronizing acquisition to object motion, line scan cameras deliver exceptional resolution

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Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:15:01

ENG Referat

David Persson JAI

00:15:01

David Persson JAI

From Niche to Mainstream: Compact Line Scan Cameras and the Changing Market

Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:15:01

Line scan cameras have evolved from complex, niche tools to powerful, easy-to-integrate solutions. Once used only when necessary, they are now the smartest choice for many tasks—delivering superior performance and clear business value.

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Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:21:41

ENG Referat

John Ilett Emergent Vision Technologies Inc

00:21:41

John Ilett Emergent Vision Technologies Inc

Linescan imaging from start to finish

Sprache: Englisch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:21:41

Regardless of the speed or performance of your Line Scan vision system, we at Emergent will guide you every step of the way from concept to prototype to system deployment and maintenance. As we will see, Emergent is far more than your typical camera provider.

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Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:26:30

DE Referat

Christian Günther conplement AG

00:26:30

Christian Günther conplement AG

DPP – Pflicht, Kür oder darüber hinaus?

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:26:30

Vom Compliance-Druck zum Industrial Internet of Value. Erfahren Sie, wie twinsphere via AAS Silodaten in 5 Schritten zur souveränen Dateninfrastruktur veredelt. Für echte Resilienz, Interoperabilität und neue Business-Modelle.

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Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:16:41

DE Referat

Stefan Güthling Bechtle PLM Deutschland GmbH

00:16:41

Stefan Güthling Bechtle PLM Deutschland GmbH

Durch den digitalen Produktpass zum besseren Produkt

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:16:41

Der Digitale Produktpass bündelt wichtige Produktdaten wie Herkunft, Materialien, Reparierbarkeit und Recyclingfähigkeit digital. Er schafft Transparenz, unterstützt Nachhaltigkeit und fördert die Kreislaufwirtschaft.

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Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:20:19

DE Referat

Kevin Konietzko TRANSCONNECT

00:20:19

Kevin Konietzko TRANSCONNECT

Ohne Integration keine AAS: Der digitale Produktpass mit TRANSCONNECT

Sprache: Deutsch

Datum: 27.05.2026

Dauer: 00:20:19

Komplexe Systemlandschaften erschweren die AAS-Anbindung. TRANSCONNECT verbindet Systeme, strukturiert Daten und reduziert Integrationsaufwand, für eine schnelle, skalierbare Umsetzung des digitalen Produktpasses.