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02.04.2025

Bild: Moderator

TeDo Verlag GmbH Peter Ebert

Zertifikat erhalten

At the inVISION Day Metrology current applications and new technologies will be presented at the four sessions 3D Scanner, Inline Metrology, Surface Metrology, CT & X-Ray. The free online conference will be completed by a keynote speech, a panel discussion and of course various presentations.

Welcome & Keynote Session 1: 3D Scanner Session 2: Inline Metrology Session 3: Surface Metrology Session 4: CT & Xray Innovations presented by EMVA Panel Discussion

Welcome & Keynote

Session 1: 3D Scanner

Session 2: Inline Metrology

Session 3: Surface Metrology

Session 4: CT & Xray

Innovations presented by EMVA

Panel Discussion | Metrology Software

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