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Keynote: Unconventional Optical Metrology - New Possibilities Beyond Classical Systems
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02.04.2025

Bild: Sprecher

Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB Dr.-Ing. Johannes Meyer

Zertifikat erhalten

Today's optical metrology systems typically employ classical lens systems, illumination components, and (AI) algorithms that are all optimized independently from each other. In this talk we will explore new ways of designing optical metrology system.

Aus dem Webinar: inVISION Day Metrology
Welcome & Keynote Session 1: 3D Scanner Session 2: Inline Metrology Session 3: Surface Metrology Session 4: CT & Xray Innovations presented by EMVA Panel Discussion

Welcome & Keynote

Session 1: 3D Scanner

Session 2: Inline Metrology

Session 3: Surface Metrology

Session 4: CT & Xray

Innovations presented by EMVA

Panel Discussion | Metrology Software

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