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Industrial Know-How Videos

Markerless Scanning. Flexible Capture. Direct On Device Inspection
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10.06.2026

Bild: Sprecher

Shining 3D Niels Stenzel

Zertifikat erhalten

Experience the next generation of industrial 3D metrology with the FreeScan Omni and FreeScan Trak Nova from SHINING 3D. The presentation showcases wireless standalone metrology, markerless tracking, and real-time inspection directly on the device.

Aus dem Webinar: inVISION Day Metrology 2026
Welcome & Keynote Session 1: 3D Scanning Session 2: Automated Metrology Session 3: Surface Inspection Session 4: NDT & CT/X-Ray EMVA Innovations Panel Discussion: The Future of Metrology

Welcome & Keynote

Session 1: 3D Scanning

Session 2: Automated Metrology

Session 3: Surface Inspection

Session 4: NDT & CT/X-Ray

EMVA Innovations

Panel Discussion: The Future of Metrology

©Daenin/stock.adobe.com

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