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Real-time, nanoscale optical metrology for advanced manufacturing
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10.06.2026

Bild: Sprecher

Shinephi Dr Roland Terborg / Iris Cusini

Zertifikat erhalten

We enable non-destructive highly-stable inspection for the semiconductor industry. Our patented add-on module transforms imaging systems into high-precision tools, delivering sub-nanometer vertical sensitivity in real time.

Aus dem Webinar: inVISION Day Metrology 2026
Welcome & Keynote Session 1: 3D Scanning Session 2: Automated Metrology Session 3: Surface Inspection Session 4: NDT & CT/X-Ray EMVA Innovations Panel Discussion: The Future of Metrology

Welcome & Keynote

Session 1: 3D Scanning

Session 2: Automated Metrology

Session 3: Surface Inspection

Session 4: NDT & CT/X-Ray

EMVA Innovations

Panel Discussion: The Future of Metrology

©Daenin/stock.adobe.com

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