inVISION Day Metrology 2026
Bild: ©AkeDynamic/stock.adobe.com
10.06.2026
09:15Uhr (MESZ)
At the Metrology Day online conference, the latest trends and products will be presented in four sessions (3D Scanning, Automated Metrology, Surface Inspection, and CT/X-Ray & NDT), providing a comprehensive overview of current market developments.
Moderation:
Dr.-Ing. Peter Ebert
Themen:
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EMVA
Welcome
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RPTU
Keynote: The Filter Toolbox ISO 16610 for Surface Topography – Theory & Application Exampl
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AT Sensors
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Bruker Alicona
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Eleven Dynamics
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Werth Messtechnik
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Wenzel Group
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Wird bekannt gegeben
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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FARO|Creaform
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Fraunhofer IPM
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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VisiConsult
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Zeiss
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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AT Sensors
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Werth Messtechnik
Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
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Weitere Referatsthemen und Referenten werden noch bekannt gegeben.
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