Metrology
Bild: ©Parilov/stock.adobe.com
17.11.2026
14:00Uhr (MEZ)
This webinar provides an overview of current metrology trends — CNN (optical/tactile), CT & X-ray, 3D inspection, surface analysis, and more — and where these new technologies are being used.
Moderation:
Dr.-Ing. Peter Ebert
Themen:
-
Weitere Referatsthemen und Referenten werden noch bekannt gegeben.
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