Metrology (TechTalk XL: Two Hours)

Bild: ©Sergey Ryzhov/stock.adobe.com

webinar-language-icon 28.10.2025

14:00Uhr (MEZ)

There are numerous methods for 2D/3D metrology, such as 3D scanners, inline metrology, surface inspection, CT&X-Ray,..... The webinar presents three solutions and the corresponding technologies and gives numerous application examples.

Moderation:

Dr.-Ing. Peter Ebert

Themen:

Zeiss

Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
Visometry

Thema des Referenten wird noch bekannt gegeben
Weitere Referatsthemen und Referenten werden noch bekannt gegeben.

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